工业显微镜

产品描述

关联显微镜技术

解决方案的优点

为了获得样品的实质，需要经常使用多种方法进行分析。从微米级到纳米级的观察需要将光学与电子显微镜（CLEM）或X射线显微镜与FIB-SEM聚焦离子束扫描电子显微镜（CXF）进行相关联。蔡司的关联显微镜技术为您提供了集成化的解决方案和无缝衔接的工作流程。选择蔡司作为光学显微镜、电子显微镜、离子束显微镜和X射线显微镜的供应商，并从多年的关联分析经验中受益。选择以样品为中心的图像和数据关联技术，使您的研究工作超越单一显微镜能够达到的技术界限。

获得对样品的独特见解
无缝地从微米级别转移到纳米级别
采用简化的工作流程在更短的时间内获取更多数据
受益于强大的图像和数据关联处理性能
从2D到4D获取，处理和分析数据
使用关联显微镜技术中的盖玻片和夹具进行准确和高效的工作

蔡司关于增材制造的关联显微镜技术解决方案

深入理解并改善缺陷检测，并从根源抑制缺陷产生

特点

深入了解缺陷的产生; 如杂质，残留物，不正确的几何形状
了解 CAD图纸中的材料属性，粉末质量，激光参数和布局等属性的影响
使用高衬度，高分辨率成像以区分材料中不同的相
在微观结构内非破坏性地确认三维亚表面特征

蔡司关联显微镜技术已被证实可成功识别3D打印部件中的杂质，并通过应用多个工作流程来了解其产生原因。蔡司Xradia Versa被用来进行大范围扫描，然后将可疑的亮点位置转移到蔡司 Crossbeam中，并用蔡司Atlas 5重新定位，最后利用EDX进行分析。这种方法可以识别杂质的来源，这些杂质往往来自于之前的3D打印作业，由于使用了不同的粉末材料而未能彻底清洁粉末容器而引入的。

蔡司关于研究纳米颗粒结构和化学分析的关联显微技术

提供纳米级别材料的定量，高分辨率分析

特点

纳米颗粒和纳米材料的可视化
观察纳米材料的结构信息
对轻元素和官能团的量化研究

为了使用光学显微镜检测纳米颗粒和纳米材料（如石墨烯），研究人员使用蔡司Axio Imager显微镜优异的偏振光衬度，并将其与蔡司全干涉衬度（TIC）模块相结合，使得可以对纳米材料的厚度进行检测。接下来，使用关联显微镜技术，使蔡司 FE-SEM可对石墨烯薄片重新定位，以便能够观察其结构和化学成分。由于类似碳元素和官能团之类的轻元素通过EDX无法进行表征，研究人员使用蔡司原位拉曼显微镜（RISE）进行研究，从而获得石墨烯片的质量信息。